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影響K6-C涂層測厚儀測量結果的因素有哪幾點
更新時間:2022-08-29 點擊次數:692
  K6-C涂層測厚儀內部配備了不同頻率和晶片尺寸的探頭,可以實現對不同材料的表面鍍膜厚度測量,通過探頭到零度校準和兩點校準等功能進行自動的誤差調整,同時,使用反測聲速,來提升測量準確度。根據測量的材質不同而使用不同的測量方式。其中,常用的兩種測量工作方式是磁感應測量和電渦流測量。
 
  磁感應測厚方法主要用來測量導磁性材料上的非導磁鍍層厚度,這種測量的方法準確度較高,通常用來測量鋼、鐵、銀等導磁材料。當K6-C涂層測厚儀的探頭與覆層接觸時,探頭會與磁性金屬基體形成一個閉合的磁路,但是磁性金屬表面的非磁性覆層將會阻礙磁路,從而發生磁阻變化,通過測量磁阻的變化量,就可以得到表面覆蓋層的厚度。
 
  影響K6-C涂層測厚儀測量結果的因素可能有:
 
  1、覆蓋層厚度大于25μm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
 
  2、基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關;
 
  3、任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響;
 
  4、對試樣測定存在邊緣效應,,即對靠近試樣樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的;
 
  5、試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
 
  6、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大。

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